赛默飞Evolution Pro 紫外可见分光光度计
对于常规、复杂的研究和高级应用（包括现行合规性），Thermo Scientific Evolution Pro 紫外-可见分光光度计系列将可靠、通用的硬件、各种配件与易于使用、易于学习的 Thermo Scientific Insight Pro 软件结合在一起。
产品特点：
可靠的精度
Evolution Pro 紫外可见分光光度计的双光束光学设计 专yong于需要更高性能的实验室，能够提供卓yue的可 靠性、精确的性能和zui短的停机时间。
• 每天分析更多的样品。随开即用的闪烁式氙灯无需 预热，保证可连续使用多年。
• 采用双光束光路设计。用于监控样品的参比位置检 测器，在数据采集期间保持长期稳定性
• 优化性能，满足高级测试要求，具有出色的峰分辨 能力，多档带宽可调
• 符合美国、欧洲、日本和中guo药典的所有性能要求
功能强大的软件选项
从样品至最终报告，Thermo Scienti c™ INSIGHT Pro 软 件能够快速引导您完成每个分析步骤。全面的数据收 集、处理和报告工具提供了定量分析、扫描和动力学应 用所需的结果。
• 采用凭借实时显示模式，实现简单的实时单波长测量 或简化扫描以识别样品峰，能更快地获取结果
• 使用面向工作流的应用程序模块轻松定制复杂的方法
• 使用可选的 INSIGHT Pro Security 软件工具加强数据 an全性，帮助您的制药实验室遵守 21 CFR Part 11 法规要求
广泛的采样选项
赛默飞世尔科技分光光度计完整而du特的附件、超大样品室和平行光束设计为先进的应 用提供了更高的灵活性。
• 利用完整的 Thermo Scientific™ zhi能附件 加快分析进程，此附件具有无线嵌入式设 计，实现了便利性和一致性
• 针对吸液器、池转换支架和自动进样器附 件提供自动识别功能和无缝软件集成，消 除了手动设置要求
• 利用 Evolution Pro 分光光度计的宽光束分 离和超大样品室为du特应用提供扩展附 件支持，包括 7 × 7 双池转换支架配置、 Praying Mantis™ 漫反射附件，兼容第三方附件
简化定量分析
可靠的结果对于质量控制分析至关重要。从简单的单 一标准比较到基于峰面积的标准曲线，我们的工具可 以sui时帮助您获得所需答案。
• 选择在固定或扫描模式下执行分析
• 根据需要选择曲线拟合和标准平均值
• 设置zui小相关系数或使用浓度限值，定义标准品和 样品的要求 测量完成后，运行图清晰地显示数据和误差线，指示 每个样品的测量值是否落在定义的浓度范围内。
自动化性能验证
利用自动化性能验证功能可确保 QA/QC 数据的准确性和可靠性，同时可提高实验室的 效率。
• 利用自动化 PV 测试可缩短分析时间，提高实验室效率
• 无需数据转录，并且能够在测试完成时返回准备用于验收的结果
• 通过可追溯的标准和所选配置选项，确保遵守行业指南以及工业和制药实验室规定
多功能光谱分析
利用全谱分析可以更深入地了解样品特征，有助于识别 和排除故障。Evolution Pro 分光光度计和 INSIGHT Pro 软件允许您按照您的方式分析光谱数据。
• 自动查找多达 100 个峰和谷，并按高度或位置排序， 或在分析后手动进行选择
• 计算峰面积或使用值水平交叉特征来解决复杂问题
• 使用自动化、用户定义的计算公式和各种后处理数学 函数，无需手动处理数据
技术参数：
| 基线平坦度 | ±0.001 A（200 至 800 nm），2.0 nm SBW，平滑化 |
| 描述 | Evolution Pro 紫外-可见分光光度计 |
| 检测器类型 | 双硅光电二极管 |
| 光源 | 氙闪光灯 |
| 产品线 | Evolution Pro |
| 光谱带宽 | 可选择 0.5、1.0、1.5、2.0、4.0 nm |
| 类型 | 紫外-可见分光光度计 |
| Wavelength Range | 190 nm 到 1100 nm |
| 漂移 | <0.0005 A/h，500 nm，2.0 nm SBW，2 小时预热 |
| 电气要求 | 100/240 V，50/60 Hz |
| 适用于（应用） | 学术、化工、食品和饮料、环境化学、工业 QA/QC、材料科学、制药 |
| 灯寿命 | 如果不使用实时信号，寿命 >5 年或更长 |
| 噪声 | 0 A：<0.00018 A 1 A：<0.00022 A 2A：<0.00050 A 500 nm，2.0 nm SBW，RMS |
| 光学设计 | 改良 Ebert 样品和参考比色皿/配件位置双光束 |
| 药典合规性测试 | 波长精度：±0.3 nm 190–900 nm 波长重复精度：10 次测量值的标准偏差。<0.1 nm 吸光度准确度：<±1 A 时为 0.010 A，2 A 时 <±0.010 A 吸光度重复精度：1 A 时为 ±0.0025 A 杂散guang：198 nm，KCl >2 A；220 nm，NaI >3 A；300 nm，丙酮 >3 A；340 nm，NaNO2 >3 A 分辨率：1 nm SBW 设置下波峰/波谷比 >1.8 |
| 光度精度 | 1 A：±0.004 A，2 A：±0.004 A，3 A：±0.006 A，采用可追溯至 NIST 的中性密度滤光片在 440 nm 处测得 |
| 光度显示 | ±6 A |
| 光度范围 | >4 A |
| 透射比重复性 | 1 A：±0.0025 A |
| 扫描纵坐标模式 | 吸光度，透射率%，反射率%，Kubelka-Munk，Log (1/R)，Log（吸光度），ABS × 因zi，强度，第 1-4 衍射率 |
| 扫描速度 | 可变，最多 6000 nm/min。 |
| 杂散guang | KCl，198 nm：≤0.4% T NaI，220 nm：≤0.032% T NaNO2，340 nm：<0.01% T |
| 质保期 | 3 年原厂替换件保修 |
| 波长精度 | ±0.20 nm（546.07 nm Hg 发射光线），±0.30 nm，190 至 900 nm |
| 波长数据间隔 | 10、5、2、1、0.5、0.2、0.1、0.05 nm |
| 波长重复性 | 10 次测量值的标准偏差 <0.05 nm |
| Unit Size | Each |
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